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光学仪器及设备
Leica EM ACE900冷冻断裂系统
Leica EM CPD300全自动临界点干燥仪
Leica EM ACE600高真空镀膜机
Leica EM UC7室温超薄切片机
Leica EM TIC 3X三离子束切割仪
Leica EM TXP精研一体机
Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜
Leica DMi8倒置显微镜
Leica DMI 3000M 研究级全手动式倒置金相显微镜
在线工业检查用立体显微镜Leica A60 S
制样/消解设备
EcoMet™ 30单&双盘自动磨抛机
EcoMet 30单双盘手动磨抛机
进口手动砂轮切割机AbrasiMet M(新款)
自动加压镶样机SimpliMet XPS1
SimpliMet 4000热压镶嵌机
自动热压镶嵌机SimpliMet® 3000
EcoMet 250/ 300 /pro研磨/抛光机系列
PowerMet3000砂轮切割机
AbrasiMatic 450全自动砂轮切割机
PetroThin™薄片切割系统
其他
Equotip Live UCI便携式维氏硬度计
Equotip Live Leeb D便携硬度计
多功能硬度计UH250布洛维一体机
自动化维氏/努氏硬度计VH3100
维氏硬度计VH1150
洛氏硬度计Rockwell2000系列
洛氏硬度计Rockwell 574系列
威尔逊布氏硬度计BH3000
便携式超声波维氏硬度计
Portable Rockwell便携式金属硬度计
热分析仪
热机械分析仪TMA 402 F1/F3 Hyperion®
热机械分析仪TMA 4000 SE
热膨胀仪DIL 402 Expedis Select & Supreme
热膨胀仪DIL 402 Expedis Classic
同步热分析仪
差示扫描量热仪
差示扫描量热仪DSC 214 Polyma
高压型差示扫描量热仪
高温型差示扫描量热仪DSC 404 F1 Pegasus®
差示扫描量热仪DSC 3500 Sirius
试验机
MPX系列摆锤冲击试验机
大载荷液压万能材料试验系统
HDX系列液压万能材料试验机
3340系列单立柱电子万能材料试验机
英斯特朗3380落地式万neng材料试验机
3360系列双立柱台式电子万能材料试验机
2380系列电子万neng试验机
2360系列电子万能试验机
2340系列电子wan能试验机
实验室粉碎设备
行星式研磨机pulverisette 5经典型
可变速高速旋转粉碎机PULVERISETTE 14加强型
微型行星式高能球磨机pulverisette 7加强型
行星式球磨机
单罐行星式研磨机pulverisette 6经典型
微型振动研磨机"pulverisette 0" Vibratory Micro
光谱检测分析仪
牛津X-MET5100(手持式XRF元素分析仪)
手持式光谱仪X-MET7000
牛津仪器X-MET5000(手持式XRF元素分析仪)
无损检测/无损探伤仪器
便携式探伤仪Proceq UT8000
超声波探伤仪Proceq Flaw Detector 100系列
X射线仪器
X-Supreme8000(X射线荧光光谱仪)
橡塑行业专用测试仪
KOSAKA SE300便携表面粗度测定机
联系方式 |
产品系列
新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言:与用户合作,使用户受益”,以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。 zui新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍,根据您的应用需求提供五种不同的载物台供您选择,实用性得到进一步提升。
1:SiC 研磨纸的横切面 l 2:胶合板的横切面 l 3:-120°C 条件下制备的同轴聚合物纤维 (溶于水) l 4:通过 Leica EM TIC 3X (配旋转载物台) 处理展现的油页岩 (纳米孔),总样品直径为 25 mm
可复制的结果
Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
使用 Leica EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。
带来****的便利!
效率
对于离子束研磨机的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。
工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。
灵活的系统 — 随时满足您的需求
凭借可灵活选择的载物台,Leica EM TIC 3X 不仅是进行高产量处理的理想设备,还适用于委托检测的实验室。根据您的需求,可选择以下可互换的载物台对 Leica EM TIC 3X 进行个性化配置:
标准载物台
多样品载物台
旋转载物台
冷却载物台或
真空冷冻传输对接台
用于制备标准样品、高产量处理,以及在低温条件下制备对高温异常敏感的样品,例如聚合物、橡胶或生物材料。
环境控制型工作流程解决方案
凭借与 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 对接台接口,可为易受环境影响的样品和/或低温样品提供出色的刨平工作流程,此类样品包括
生物材料,
地质材料
或工业材料。
随后,这些样品会在惰性气体/真空/冷冻条件下,被传输至我们的镀膜系统 EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系统。
标准的工作流程解决方案 — 与 Leica EM TXP 产生协同效应
在使用 Leica EM TIC 3X 之前,通常需要进行机械准备工作,以便尽可能接近感兴趣区域。Leica EM TXP 是一种独特的标靶面抛光系统,开发用于样品的切割和抛光,为 Leica EM TIC 3X 等仪器进行后续技术处理做好充分准备
Leica EM TXP 经专业设计,利用锯切、铣削、研磨和抛光技术对样品进行预制。 对于需要jing准定位以及难以制备的挑战性样品,它能提供出色的结果,令处理变得轻松简单。